CN
AOI / Inspection
不放过任何微小缺陷的高性能视觉与外观检测解决方案
Pattern AOI通过高性能视觉算法实时检测并自动分类断路、短路及微小颗粒。MACRO Inspection通过多角度光学照明系统，实现基于目视及机器视觉的色斑（MURA）检测与管控。我们拥有适用于TFT、彩色滤光片、LTPS及OLED等显示领域的专用检测算法，可检测大尺寸（G8.5–G10.5）基板，并以每检测点不超过1.2秒的高速扫描提供快速、全面的检测能力。
OLED
Backplane AOI
- 孔位及肋条表面异物与微小缺陷检测
- 检出尺寸：≥ 3 μm（检出率95%）
- 光学分辨率：1.5 μm（因规格而异）
- 检测覆盖率：100%
- （有效区域内无漏检区域）
TFT
AOI
- TFT玻璃图形阵列缺陷及异物检测
- Defect Resolution (Standalone : 3~5μm)
- Final Inspection
- 主要缺陷：阵列短路、断路及异物
CF
AOI
- CF玻璃表面各类缺陷检测
- Defect Resolution (Standalone: 10μm / In-Line: 20μm)
- Layer Inspected: BM, Red, Green, Blue, OC, CS
- 主要缺陷：污渍、异物、划痕、黑点及白点
Manual Macro
Inspection
- CF、TFT人工目视检测设备系列
- 具备大面积缺陷及不均匀图形检测的专业技术
- 载台等配置具有高度灵活性
- 主要缺陷：光刻（R/G/B）行线不均及色斑（Mura）
